什么是缺陷密度？计算的公式及示例

 

什么是缺陷密度？

缺陷密度是软件/模块在特定运行或开发期间确认的缺陷数量除以软件/模块的大小。它使人们能够决定某个软件是否已准备好发布。

缺陷密度是按每千行代码（即 KLOC）计算的。

如何计算缺陷密度

测量缺陷密度的公式：

缺陷密度=缺陷数量/版本大小

版本的大小可以用一行代码（LoC）来衡量。

缺陷密度示例

假设有3个模块集成到软件产品中。每个模块都发现了以下数量的缺陷：

• 模块1 = 10个缺陷

• 模块2 = 20个缺陷

• 模块3 = 10个缺陷

缺陷总数= 10 + 20 + 10 = 40

每个模块的代码总行是：

• 模块1 = 1000 LoC

• 模块2 = 1500 LoC

• 单元3 = 500  LoC

总代码行= 1000 + 1500 + 500 = 3000

缺陷密度的计算公式为：

缺陷密度= 40/3000 = 0.013333缺陷/位置= 13.333缺陷/KLoC

缺陷密度标准

对于缺陷密度没有固定的标准，但研究表明，每千行代码一个缺陷（1缺陷/KLoC）通常被认为是良好项目质量的标志。

影响缺陷密度指标的因素

• 代码复杂度

• 计算中考虑的缺陷类型

• 计算缺陷密度所考虑的持续时间

• 开发人员或测试人员技能

缺陷密度的优点

• 有助于衡量测试的有效性

• 有助于区分组件/软件模块中的缺陷

• 在确定需要纠正或改进的区域时很有用

• 在指出高风险成分时很有用

• 有助于确定对各种资源的培训需求

• 有助于估计由于缺陷而导致的测试和返工

• 可以估计软件中剩余的缺陷

• 在发布之前，我们可以确定我们的测试是否充分

• 我们可以确保数据库具有标准的缺陷密度

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