模拟集成电路实践记录_三种MOS单管放大器

实验二,三种MOS单管放大器

2.1 实验背景

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三种电路电阻负载下的信号增益(\(A_v\)),输入阻抗(\(R_{i}\)),输出阻抗(\(R_o\)),假定\(r_o >> R_D\),\(g_{mb}=0\)

信号增益\(A_v\) 输入电阻\(R_{i}\) 输出电阻\(R_o\)
共源极 \(-g_mR_D\) \(\approx \infin\) \(R_D\)
共栅极 \(g_mR_D\) \(1/g_m\) \(R_D\)
共漏极 \(\frac{g_mR_S}{g_mR_S+1}\) \(\approx \infin\) \(R_s//\frac{1}{g_m}\)

2.2 实验内容

  1. 根据单个MOS管的三种基本放大阻态(共源、共栅、共漏)(电流负载),完成电路设计与仿真验证。
  2. 设计MOS管三种基本组态放大电路的主要参数,包括电路的直流工作点、MOS管的宽长比、主要的电阻值等,使电路能够正常稳定的工作。
  3. 测量电路的交流增益,输入输出阻抗,与理论结果比较。

2.3 实验过程

  1. 连接共源极放大器电路如下

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  1. 进行直流仿真,计算电路直流工作点,激励,仿真条件设置如下

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  1. 选择晶体管栅极,源极,漏极作为Output

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  1. 运行直流仿真,得到晶体管直流工作点参数

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  1. 设置瞬态仿真条件(激励GND和VDD设置与直流仿真一致)

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  1. 选择IN,OUT端口作为Output

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  1. 运行瞬态仿真,得到IN和OUT端口的信号波形

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  1. 连接共栅极放大器电路如下

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  1. 和共源极放大器电路采用类似的方法,设置激励后进行直流工作点的仿真和信号放大的交流仿真

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  1. 连接共漏极放大器电路如下

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  1. 设置激励后进行直流工作点的仿真和信号放大的交流仿真

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2.4 实验分析

本次实验的三个单管放大器均使用NMOS,其工艺参数如下

\(μC_{ox}(μA/V^2)\) \(V_{TH}(mV)\) \(\lambda(V^{-1})\)
NMOS 235 410 0.126

为了简化计算,我们忽略沟道调制效应,假定漏源电流计算公式为

\[I_{DS}=\frac{1}{2}μ_nC_{ox}\frac{W}{L}(V_{GS}-V_{TH})^2 \]

则跨导\(g_m\)可以通过计算得到

\[g_m=\frac{\partial I_{DS}}{\partial V_{DS}} = μ_nC_{ox}\frac{W}{L}(V_{GS}-V_{TH}) \]

对于本次实验涉及的所有放大器,其设计分析过程如下。第一步根据需要的指标要求估算参数,第二步进行直流仿真,根据仿真结果修改参数,直到符合要求,第三步进行交流仿真,根据仿真结果修改参数,直到符合要求。需要首先进行直流工作点的仿真的原因是,为了保证放大器能够正常工作,NMOS需要工作在饱和区下,即需要满足\(V_{GS}>V_{TH}\)以及\(V_{GS}-V_{TH}<V_{DS}\)。

这里以共源极放大器的分析为例,详细描述分析与设计的过程:

  1. 估算参数

假定目标增益\(|A_v|>1\),共源极放大器的放大倍数为\(A_v = -g_mR_D\),因此需要确定的参数为\(\frac{W}{L}\),\(V_{GS}\)和\(R_D\),\(V_{GS}\)需要大于\(V_{TH}\),因此必须大于\(410mV\),但同时由于饱和区要求\(V_{GS}-V_{TH}<V_{DS}\),\(V_{GS}\)不能选取过大,因为\(V_{DS}=V_{DD}-I_{DS}R_D\) ,而\(I_{DS}\)也收到\(V_{GS}\)的控制,如果\(V_{GS}\)过大必定会导致NMOS管无法工作在饱和区,这里先选定\(V_{GS}=1\)。进一步选定\(\frac{W}{L}=\frac{220}{180}\)的情况下,可以计算出\(I_{DS}=50μA\),\(g_m=169.5μS\)。在\(V_{GS}-V_{TH}<V_{DS}\),\(V_{DS}=V_{DD}-I_{DS}R_D\),\(A_v = -g_mR_D\),\(|A_v|>1\)的约束下,选定\(R_D=10kΩ\)。

估算参数列表如下:

晶体管宽长比(\(\frac{W}{L}\)) 晶体管栅源电压(\(V_{GS}\)) 负载电阻(\(R_D\))
\(220/180\) \(1V\) \(10kΩ\)

根据以上参数计算得到直流工作点:

源漏电流(\(I_{DS}\)) 源漏电压(\(V_{DS}\))
\(50μA\) \(1.3V\)

根据以上参数计算得到交流放大参数:

信号增益\(A_v\)
\(-1.695\)
  1. 进行直流仿真

将估算结果与直流仿真结果比较,与估算的结果基本一致,可以确定晶体管工作在饱和区:

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源漏电流(\(I_{DS}\)) 源漏电压(\(V_{DS}\))
\(53.6μA\) \(1.26V\)
  1. 进行交流仿真

进一步进行交流仿真,可以很明显的看出共源极放大器的反相放大特性,使用放大后的信号峰峰值和输入信号峰峰值之比得到增益:

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信号增益\(A_v\)
\(\approx -1.5\)

实际仿真得到的交流信号增益略小于估算结果,这是因为\(A_v=-g_mR_D\)实际上是忽略了晶体管\(r_o\)的影响,假定\(r_o >> R_D\)而得到的。如果使用\(r_o\approx\frac{1}{\lambda I_{DS}}\),\(A_v=-g_m(R_D//r_o)\)重新进行计算,可以得到:

晶体管输出电阻(\(r_o\)) 信号增益\(A_v\)
\(148kΩ\) \(-1.58\)

使用相似的方法对共栅极和共漏极电路进行分析和设计:

共栅极放大电路设计参数:

晶体管宽长比(\(\frac{W}{L}\)) 晶体管栅源电压(\(V_{GS}\)) 负载电阻(\(R_D\))
\(220/180\) \(0.8V\) \(10kΩ\)
源漏电流(\(I_{DS}\)) 源漏电压(\(V_{DS}\))
\(21.8μA\) \(0.582V\)
信号增益\(A_v\)
\(1.12\)

共栅极放大电路仿真结果:

源漏电流(\(I_{DS}\)) 源漏电压(\(V_{DS}\))
\(24.2μA\) \(0.558V\)
信号增益\(A_v\)
\(1.04\)

共漏极放大电路设计参数:

晶体管宽长比(\(\frac{W}{L}\)) 晶体管栅源电压(\(V_{GS}\)) 负载电阻(\(R_D\))
\(220/180\) \(1V\) \(10kΩ\)
源漏电流(\(I_{DS}\)) 源漏电压(\(V_{DS}\))
\(50μA\) \(1.3V\)
信号增益\(A_v\)
\(0.63\)

共漏极放大电路仿真结果:

源漏电流(\(I_{DS}\)) 源漏电压(\(V_{DS}\))
\(51.5μA\) \(1.285V\)
信号增益\(A_v\)
\(0.58\)

从实验中可以总结出三个单管放大器各自的特性:

共源极放大器:反相放大器,输入电阻大,适合作为电压放大器的输入级

共栅极放大器:同相放大器,输入电阻小,可用作电流放大,可以与共源极放大器组合形成共源共栅放大器结构(Cascode),进一步扩大增益

共漏极放大器:同相放大器,增益小于1,满足\(g_m>>\frac{1}{R_S}\)时趋近于1,由于输出电阻小适合作为电压放大器的输出级,起跟随器作用

更复杂的放大器的本质上也是由单管组成的,掌握单管的性质有助于设计后续的复杂放大器电路。此外,读者可以自行调整参数,实现更大增益倍数的单管放大器,以及通过输入端/输出端断路的方式,进行电路输入输出电阻和理论值的比较验证。

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