为什么要做DFT ？

随着集成电路制造技术和复杂度的提高，集成电路设计工程师可以将一个系统集成在一个芯片中，其中可能包括逻辑部分、存储器、模拟部分、模数混合部分等等，这样的系统称为片上系统，也称为系统芯片（SoC）。相对于板上系统，系统芯片极大地缩小了系统体积，减少了板级系统中芯片与芯片之间的互连延迟，从而极大地提高了系统的性能。为了缩短上市时间和节约开发成本，系统芯片越来越多的采用嵌入式核进行设计，这些嵌入式核被称为IP（Intellectual Property）核，这种基于库资源的IP复用设计方式将成为IC设计的主流方式可测试性设计就是其中的难题之一。

常用技术有哪些呢

1. 边界扫描测试BSD

如图所示，为BSD(Boundray-Scan DFT)的总体拓扑结构，主要包括边界扫描单元（BSC）和测试访问端口控制器(TAP Controller)两部分，其核心就是TAP Controller。