问题描述
　　有$n$n（2≤$n$n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数$n$n，表示芯片个数。
　　第二行到第$n+1$n+1行为$n*n$n∗n的一张表，每行$n$n个数据。表中的每个数据为0或1，在这$n$n行中的第$i$i行第$j$j列（1≤$i$i, $j$j≤$n$n）的数据表示用第$i$i块芯片测试第$j$j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，$i=j$i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

个人思路：既然好芯片多于坏芯片，那么被测试的那个芯片如果为0的个数多于半数即能证明其是坏芯片。那么将坏芯片剔除余下的即是好芯片。

#include <iostream>
using namespace std;
int n;
int a[25][25];
bool vis[25];
int main() {
	cin >> n;
	for (int i = 1; i <= n; ++i) {
		for (int j = 1; j <= n; ++j) {
			cin >> a[i][j];
		}
	}
	for (int j = 1; j <= n; ++j) {
		int cnt = 0;
		for (int i = 1; i <= n; ++i) {
			if (i != j) {
				if (a[i][j] == 0) {
					cnt++;
				}
			}
		}
		if (cnt >= (n + 1)/2) {
			vis[j] = true;
		} 
	}
	for (int i = 1; i <= n; ++i) {
		if (!vis[i])
			cout << i << " ";
	}
	return 0;
}